原子力显微镜AFM与扫描隧道显微镜STM分析原理
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy ，简称AFM)
原子力显微镜的工作原理就是将探针装在一弹性微悬臂的一端， 微悬臂的另一端固定， 当探针在样品表面扫描时， 探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形， 这样， 微悬臂的轻微变形就可以作为探针和样品间排斥力的直接量度。一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器， 可以精确测量微悬臂的微小变形， 这样就实现了通过检测样品与探针之间的原子排斥力来反映样品表面形貌和其他表面结构。
扫描隧道显微镜（ STM）
扫描隧道显微镜（ STM ）的基本原理是利用量子理论中的隧道效应。将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近时（通常小于1nm），在外加电场的作用下， 电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。这种现象即是隧道效应。
